德國蔡司推出了具有時代意義的蔡司掃描電鏡 (SEM)-拉曼光譜聯合平臺系統，能夠將樣品的微觀形貌、元素分析與分子結構、理化性質、結晶度及晶體缺陷信息相結合，為科研人員提供了一個全新的多維度分析平臺。該平臺可配置Witec、Renishaw、Horiba等多家拉曼光譜，為您提供個性化應用選擇。

　　系統構成

　　蔡司掃描電子顯微鏡：是利用細聚焦的電子束轟擊樣品表面，通過電子與樣品相互作用產生二次電子、背散射電子、X射線等，對樣品表面或斷口形貌進行觀察和分析的一種檢測手段。借助附件能譜儀EDS或者波譜儀WDS可以獲得分析區域的元素種類及其含量的定性信息。增加背散射電子衍射EBSD附件還可以獲取晶體學取向信息。但是掃描電鏡很難表征物質的化學結構。

　　拉曼光譜：是一種散射光譜，通過測定材料的分子鍵的振動頻率，可以獲得材料的化學與結構特點，例如官能團，對稱群，點陣缺陷等，以及材料的結晶度等詳細的信息。但是拉曼光譜往往借助光學顯微鏡用于觀察樣品及激光聚焦，受制于所用激光光源的波長(一般為紫外、可見光及近紅外波段)，空間分辨率較低，對于一些結構復雜的樣品難以分辨其中的不同的物相與顆粒。